CC余弦校正器

CC余弦校正器

CC 余弦校正器是一款用于光譜輻射取樣的光學元件，核心優(yōu)勢是收集 180° 立體角內(nèi)的輻射，消除取樣裝置幾何結(jié)構(gòu)限制導致的光學耦合問題，保障光線采集均勻性，提升光譜測量準確性。通過內(nèi)置的朗伯特性漫反射材料，它能夠?qū)碜园肭蚩臻g內(nèi)的入射光均勻化，從而消除因探頭方向性、幾何限制和光學耦合不確定性所帶來的測量誤差，是實現(xiàn)精確、可重復輻照度測量的基礎工具。

核心信息

l     180° 接收視場 (Field of View): 能夠采集來自完整半球空間（2π立體角）的光信號，適用于環(huán)境光、大面積光源及漫射光源的測量。

l     精確的余弦響應: 探頭對光的響應強度與入射光角度的余弦值成正比，模擬了平面探測器接收輻射照度的物理模型，確保了測量的準確性。

l     消除方向依賴性: 解決了裸光纖因數(shù)值孔徑（NA）限制而導致的角度敏感問題，使測量結(jié)果對探頭擺放位置和角度的微小變化不敏感，提高了測量的可重復性。

l     標準接口: 采用工業(yè)標準的 SMA905 接口，可與絕大多數(shù)商用光譜儀和光纖附件直接連接，具備良好的兼容性。

l    寬光譜范圍: 提供多種散射材料選項，覆蓋從紫外（UV）到近紅外（NIR）的寬廣波段，滿足不同應用需求。

產(chǎn)品規(guī)格

l     視場角：180°

l     散射材料：UV-VIS 或 VIS-NIR

l     波長范圍：200~2500nm

詳細參數(shù)

應用領域

作為光譜輻射取樣的關鍵光學元件，可廣泛應用于需要精準采集光線的光譜測量場景。通過高效收集 180° 立體角內(nèi)的輻射，消除光學耦合干擾，確保光線采集均勻，為光譜分析提供可靠的基礎數(shù)據(jù)。